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光學(xué)或成像系統(tǒng)的像平面通常不僅接收成像輻射，還接收能降低成像對比度的雜散光。這種不需要的輻射稱為雜散光（veiling glare）。鏡頭的雜散光（veiling glare）與鏡頭系統(tǒng)和相機機身組合的雜散光（veiling glare）有很大不同。在后一種情況下，來自圖像傳感器的部分成像輻射的反射，再加上來自鏡頭系統(tǒng)和相機機身的進一步反射和散射會顯著貢獻雜散光。一種測量雜散光（veiling g
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光學(xué)或成像系統(tǒng)的像平面通常不僅接收成像輻射，還接收能降低成像對比度的雜散光。這種不需要的輻射稱為雜散光（veiling glare）。鏡頭的雜散光（veiling glare）與鏡頭系統(tǒng)和相機機身組合的雜散光（veiling glare）有很大不同。在后一種情況下，來自圖像傳感器的部分成像輻射的反射，再加上來自鏡頭系統(tǒng)和相機機身的進一步反射和散射會顯著貢獻雜散光。
一種測量雜散光（veiling glare）的方法稱為積分法。用積分方法，目標對象是一個被擴展均勻光源包圍的小的黑色區(qū)域。雜散光系數(shù)（veiling glare index）指定為黑色區(qū)域成像中的輻照度與擴展光源成像中的輻照度之比。
一般來說，積分方法適用于場景通常具有大致均勻輻射的系統(tǒng)，例如在陰天條件下或太陽在相機或鏡頭系統(tǒng)后的景觀成像。
